鍍層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱(chēng)重法，X射線(xiàn)熒光法，β射線(xiàn)反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。

X射線(xiàn)和β射線(xiàn)法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線(xiàn)法可測(cè)薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線(xiàn)法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。

鍍層測(cè)厚儀有兩種開(kāi)機(jī)使用方法。一種是探頭在測(cè)試過(guò)程中自動(dòng)觸發(fā)開(kāi)機(jī)，并且直接顯示出測(cè)量結(jié)果。這是因?yàn)椴捎昧藬?shù)字探頭，非常的靈敏，會(huì)自動(dòng)識(shí)別出測(cè)量基材，并且自動(dòng)轉(zhuǎn)換。

還有一種是按鍵開(kāi)機(jī)。開(kāi)機(jī)儀器會(huì)顯示探頭型號(hào)，兩種不同量程的探頭可供客戶(hù)選擇。

鍍層測(cè)厚儀因?yàn)椴捎玫氖侵鳈C(jī)與探頭分離式的設(shè)計(jì)，所以在購(gòu)買(mǎi)時(shí)有兩個(gè)不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭，大量程厚可以測(cè)到5mm，F(xiàn)3N3的探頭，厚可以測(cè)到3mm。

在測(cè)量以mm為單位的鍍層厚度時(shí)，大量程的鍍層測(cè)厚儀LS223就可以滿(mǎn)足您的測(cè)量需求。客戶(hù)在選購(gòu)時(shí)可以根據(jù)測(cè)量材料的厚度來(lái)選擇相應(yīng)的探頭。鍍層測(cè)厚儀90天無(wú)理由退換貨，不滿(mǎn)意都可以退。

鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)

實(shí)用特點(diǎn)一：0.5秒就可以無(wú)損測(cè)量出涂層以及鍍層的厚度。并且自動(dòng)識(shí)別測(cè)量的基材。

實(shí)用特點(diǎn)二：市面上的鍍層測(cè)厚儀，在使用時(shí)都是需要校準(zhǔn)的，但林上的鍍層測(cè)厚儀LS223，無(wú)需校準(zhǔn)，只需凋零，儀器調(diào)零完畢后即可開(kāi)始測(cè)量。

實(shí)用特點(diǎn)三：儀器只有一個(gè)按鍵，省去繁瑣操作，測(cè)量更加的簡(jiǎn)單。

實(shí)用特點(diǎn)四：測(cè)頭采用真正的紅寶石，非常的耐磨和耐腐蝕，可以保證鍍層測(cè)厚儀LS223長(zhǎng)久有效的使用。

實(shí)用特點(diǎn)五：探頭采用了的數(shù)字探頭，這種探頭不容易收到干擾，而且還提供優(yōu)良的測(cè)試精度，即使溫度變化也不受影響。

實(shí)用特點(diǎn)六：有F3N3探頭和F5N3探頭可選擇F5N3探頭的量程范圍是5mm，F(xiàn)3N3探頭的量程范圍是3mm。鐵鋁兩用，特別適用于大厚度的涂層檢測(cè)。

我們?nèi)w員工以飽滿(mǎn)的熱情，期待與五湖四海的新老朋友合作。一直秉承滿(mǎn)足用戶(hù)需求，至真至誠(chéng)，著眼現(xiàn)在，放眼未來(lái)的經(jīng)營(yíng)理念。